儀器名稱：TEM原位納米力學(xué)測試儀

品牌:  布魯克

型號：PI 95

產(chǎn)地：美國


儀器介紹：

1.三板電容傳感器實(shí)現(xiàn)靜電力驅(qū)動(dòng)施加載荷和電容式位移感應(yīng)；******壓痕深度：≥2μm；
2.位移噪音背景：≤1nm；
3.反饋控制頻率≥78kHz;
4.透射電鏡原位納米力學(xué)測試系統(tǒng)可以在TEM中進(jìn)行壓入、壓縮、拉伸、彎曲測試，直接觀察納米力學(xué)測量過程。不僅可以實(shí)現(xiàn)觀察材料在納米尺度的力學(xué)響應(yīng)，而且可以實(shí)時(shí)獲取載荷-位移曲線，并通過視頻接口實(shí)現(xiàn)載荷-位移曲線與對應(yīng)透射電鏡視頻的完全同步，原位看到位錯(cuò)、雜質(zhì)、相偏析、晶界在小尺度材料中所起的作用。